SMT首件測(cè)試儀有多少種測(cè)試方法？

　　以下是首件測(cè)試的一些常用方法進(jìn)行介紹，根據(jù)不同的生產(chǎn)發(fā)展需求，企業(yè)通常會(huì)選擇自己不同的測(cè)試分析方法，雖然可以使用的方法研究不同，但終的效果卻是相同的。

　　1.人工用儀表檢查第一件，通過儀表檢查電阻和電容值，檢查BOM表，但操作麻煩，容易出錯(cuò)。

　　2.LCR測(cè)量，俗稱電橋，這種測(cè)試方法適用于一些簡(jiǎn)單的電路板，電路板元件較少，沒有集成電路，只有一些無源元件的電路板，部件完成后，LCR被用來直接測(cè)量電路板上的元件。與BOM上的組件評(píng)級(jí)相比，正式生產(chǎn)可以在沒有異常的情況下開始。這種方法由于成本低，只要有一個(gè)LCR就可以運(yùn)行，因此許多SMT裝置得到了廣泛的應(yīng)用。

　　3.FAI首條測(cè)試儀，通常由一套LCR橋主導(dǎo)的FAI軟件組成。生產(chǎn)出來的產(chǎn)品BOM可以導(dǎo)入FAI系統(tǒng)。員工可以使用他們自己的橋接夾具來測(cè)量第一個(gè)樣品組件，系統(tǒng)將使用輸入的BOM數(shù)據(jù)進(jìn)行檢查。測(cè)試過程軟件可以通過圖形或語音顯示結(jié)果，減少因人員查找疏忽造成的誤測(cè)?？梢怨?jié)省人力成本，但是前期投入較大，所以在目前的SMT行業(yè)有一定的市場(chǎng)，得到一定企業(yè)的認(rèn)可。

　　4.AOI測(cè)試，這個(gè)系統(tǒng)測(cè)試分析方法在SMT行業(yè)中非常的常見，適用于企業(yè)所有的電路板進(jìn)行生產(chǎn)，主要是學(xué)生通過電子元器件的外形結(jié)構(gòu)特性來確定一個(gè)元器件的焊接技術(shù)問題，也可以同時(shí)通過對(duì)元器件的顏色，IC上絲印的檢查來判定電路板上的元器件之間是否能夠存在錯(cuò)件問題?；旧厦恳粭lSMT生產(chǎn)發(fā)展線上學(xué)習(xí)都會(huì)標(biāo)配一到兩臺(tái)AOI設(shè)備。

　　5.在X射線檢查中，對(duì)于BGA、CSP、QFN封裝元件等有隱蔽焊點(diǎn)電路板，需要對(duì)生產(chǎn)的首件進(jìn)行X射線檢查，且X射線具有很強(qiáng)的穿透力，X射線圖可以顯示焊點(diǎn)的厚度、形狀、質(zhì)量和密度。這些具體指標(biāo)能全面反映焊點(diǎn)的質(zhì)量，包括開路、短路、孔洞、內(nèi)部氣泡、缺錫等，并能進(jìn)行定量分析。

　　6.飛針測(cè)試，這種測(cè)試方法通常用于某些開發(fā)的小批量生產(chǎn)，其特點(diǎn)是易于測(cè)試，程序可變，通用性好，基本上可以測(cè)試所有型號(hào)的電路板。但是測(cè)試效率相對(duì)較低，每塊板的測(cè)試時(shí)間都會(huì)很長(zhǎng)。

　　7.ICT測(cè)試，這種測(cè)試方法通常用在已經(jīng)量產(chǎn)的車型上。而且通常生產(chǎn)量比較大，測(cè)試效率很高，但是制造成本比較高。每個(gè)型號(hào)的電路板都需要一個(gè)專用的夾具，每個(gè)夾具的使用壽命都不是很長(zhǎng)，所以測(cè)試成本比較高。